日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II

掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術、生命科學、產品設計研發及失效分析等領域有著廣泛的應用。 近年來，掃描電鏡觀察表面精細結構及元素分析的需求日趨增加，而越來越多的用戶希望能在生產線、品保檢驗線和辦公區等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此，體積小、操作簡便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關注。FlexSEM 1000主機寬450mm、長640mm，相比SU1510型號體積減小52%，重量減輕45%，功耗減小50%，且配備標準化的電源接口。主機與供電單元可分離，安裝非常靈活。

FlexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP"，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現最直觀的視野移動。

• 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型^*1電子顯微鏡，仍可實現4.0 nm的分辨率

• 憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD^*2），可在低加速/低真空下觀察時實現清晰的畫質

• 全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現高畫質和高處理能力

• 全新的定位功能“SEM MAP"，支持觀察時的視野搜索和樣品定位

• 大直徑（30毫米²）無氮EDS檢測器，可快速進行元素分析^*2

*1設置到桌面上時，請將機體與電源盒分離

*2選項