日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀

日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是下一代能*多種需求的強力分析工具之一。
日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀EPMA快速啟動點擊任何一點，就能開始預設的EDS定性、定量分析或WDS分析。用戶菜單（User recipes）能保存或調用經常使用的各種不同類型的樣品分析條件，菜單中包括了全部的電子光學參數、EDS和WDS參數在內。EDS 的性能數字化脈沖處理器全譜面分布(WD/ED, 樣品臺和電子束掃描)無風扇SDD (選配)
產品規格檢測元素范圍  WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～UX射線檢測范圍  WDS檢測的波長范圍:  0.087～9.3nm,EDS EDS檢測的能量范圍:  20keV分光譜儀數量  WDS: 1～5道可選、EDS: 1臺zui大樣品尺寸  100mm × 100mm × 50mm（H）加速電壓  0.2～30kV（以0.1 kV為步長）束流電流范圍  10-12 ～ 10-5 A束流電流穩定度  5%/h, ±0.3%/12h（W）二次電子分辨率  6nm（W）, 5nm（LaB6）*2（W.D. 11mm, 30kV）掃描倍率  ×40 ～  ×300,000（W. D. 11mm）掃描圖像分辨率  zui大 5,120× 3,840彩色顯示器  EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024SEM操作、 EDS分析用:  LCD 1,280 × 1,024*1: 需安裝用于Be分析的選配分光晶體。*2: LaB6 為選配。