詳細摘要： 簡介該設備支持超大/超重樣品測試，能分別搭載直徑300mm、重量5kg的樣品，擁有大視野觀察功能，并具備自動化功能以提高操作性能

詳細摘要： 簡介SU3900/SU3800SE系列FE-SEM產品具備超高分辨率和觀察能力，突破了傳統SEM產品的樣品尺寸與重量限制

詳細摘要： 簡介日立公司推出新型肖特基式場發射掃描電子顯微鏡"SU5000"，配備全新用戶界面和"EMWizard"軟件，簡化了操作流程，無論用戶技能水平如何都能獲得高質量...

詳細摘要： 簡介臺式顯微鏡因其設計緊湊、操作簡便，自2005年起便在科研與工業領域廣泛應用

詳細摘要： 簡介日立推出的新一代全數字化120kV透射電子顯微鏡HT7800，顯著提升了操作的一體化和自動化水平

詳細摘要： 簡介日立推出的200kV球差校正透射電鏡HF5000，擁有高穩定冷場發射電子槍和自動球差校正器，支持一鍵自動校正，分辨率達到0.78埃

詳細摘要： 簡介此次推出的SU7000掃描電鏡采用全新設計的探測器系統，在相同工作距離下提升了二次電子和背散射電子信號的檢測能力，并縮短了樣品觀察和分析時間

詳細摘要： 簡介FE-SEM因其高分辨率和豐富的信息，在納米技術、半導體、電子器件等領域廣泛應用

詳細摘要： 簡介SU8700作為一款面向新時代的FE-SEM，繼承了日立電鏡一貫的高圖像質量和高穩定性，并新增了自動獲取數據等高通量功能

詳細摘要： 簡介該設備配備了改良的RealTune™II測量參數自動調整功能和直觀的圖形用戶界面，使得即使是初學者也能輕松獲取高質量的數據

詳細摘要： 簡介日立科學公司推出納米尺度3D光學干涉測量系統“VS1800"，專為半導體、汽車、食品、醫藥品等行業中材料研究和開發中的表面形態測量需求設計

詳細摘要： 簡介專用掃描透射顯微鏡HD-2700配備球差校正儀，由德國CEOSGmbH公司與日立合作開發，顯著提升顯微鏡性能，分辨率提高1.5倍，探針電流增強10倍

詳細摘要： 簡介日立高新推出的超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000專為電子束敏感樣品和需要300萬倍穩定觀察的半導體器件設計

詳細摘要： 簡介FlexSEM1000是一款體積小巧、操作簡便且分辨率高的掃描電子顯微鏡，其體積比SU1510型號縮小52%，重量減輕45%，功耗減少50%

詳細摘要： 簡介日立推出的臺式紫外可見近紅外分光光度計UH5700，融合了精密的光柵技術和創新設計，具備寬波長范圍（190-3300nm）、低噪音、高速掃描、高靈敏度及豐富...

詳細摘要： 簡介UH4150AD+是UH4150系列的升級版，專門提升在近紅外區域的光譜特性測量性能，具備更廣泛的測光范圍（紫外可見區8Abs，近紅外區7Abs），采用高靈...

詳細摘要： 簡介UH4150分光光度計繼承了U-4100的高可靠性，并在光學系統、檢測精度和樣品通量等方面進行了技術提升

詳細摘要： 簡介日立紫外清洗設備采用紫外光和臭氧對樣品表面進行清潔，特別適用于有機污染物的去除，相較于等離子清洗更為溫和，減少對樣品的損傷

詳細摘要： 簡介該款滴定儀體積小巧，僅31cm(W)×27cm(D)，卻集成了酸堿、沉淀、絡合及氧化還原等多種滴定功能，且支持卡爾費休水分測定

詳細摘要： 簡介這款電位滴定儀支持獨立系統控制，允許用戶同時處理多達四個獨立的任務，并且能夠增加四個滴定工作站和攪拌器，支持電位滴定和光度滴定等多種操作方式